SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Test hochintegrierter Schaltungen November 07
Test hochintegrierter Schaltungen
Übung 2
Test hochintegrierter Schaltungen November 07
2
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 4 (Fehlermodelle)
Test hochintegrierter Schaltungen November 07
3
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 4 (Fehlermodelle)
Test hochintegrierter Schaltungen November 07
4
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 4 (Fehlermodelle)
as@0 as@1
bs@0 bs@1
cs@0 cs@1
ds@0 ds@1
es@0 es@1
fs@0 fs@1
gs@0 gs@1
hs@0 hs@1
is@0 is@1
js@0 js@1
ks@0 ks@1
ls@0 ls@1
ms@0 ms@1
ns@0 ns@1
os@0 os@1
ps@0 ps@1
qs@0 qs@1
rs@0 rs@1
ss@0 ss@1
Test hochintegrierter Schaltungen November 07
5
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 4 (Fehlermodelle)
as@0 as@1
bs@0 bs@1
cs@0 cs@1
ds@0 ds@1
es@0 es@1
fs@0 fs@1
gs@0 gs@1
hs@0 hs@1
0
0
0 1
1
1
0
1
0
0
0
is@0 is@1
js@0 js@1
ks@0 ks@1
ls@0 ls@1
ms@0 ms@1
ns@0 ns@1
os@0 os@1
ps@0 ps@1
qs@0 qs@1
rs@0 rs@1
ss@0 ss@1
1. Zufallsvektoren simulieren
getestete Fehler streichen
Test hochintegrierter Schaltungen November 07
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 4 (Fehlermodelle)
as@0 as@1
bs@0 bs@1
cs@0 cs@1
ds@0 ds@1
es@0 es@1
fs@0 fs@1
gs@0 gs@1
hs@0 hs@1
0
1
0 1
1
1
0
1
1
0
1
is@0 is@1
js@0 js@1
ks@0 ks@1
ls@0 ls@1
ms@0 ms@1
ns@0 ns@1
os@0 os@1
ps@0 ps@1
qs@0 qs@1
rs@0 rs@1
ss@0 ss@1
1. Zufallsvektoren simulieren
getestete Fehler streichen
Test hochintegrierter Schaltungen November 07
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 4 (Fehlermodelle)
as@0 as@1
bs@0 bs@1
cs@0 cs@1
ds@0 ds@1
es@0 es@1
fs@0 fs@1
gs@0 gs@1
hs@0 hs@1
0
0
1 0
1
0
1
0
0
0
0
is@0 is@1
js@0 js@1
ks@0 ks@1
ls@0 ls@1
ms@0 ms@1
ns@0 ns@1
os@0 os@1
ps@0 ps@1
qs@0 qs@1
rs@0 rs@1
ss@0 ss@1
1. Zufallsvektoren simulieren
getestete Fehler streichen
Test hochintegrierter Schaltungen November 07
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 4 (Fehlermodelle)
as@0 as@1
bs@0 bs@1
cs@0 cs@1
ds@0 ds@1
es@0 es@1
fs@0 fs@1
gs@0 gs@1
hs@0 hs@1
1
1
0 1
0
0
0
0
0
0
0
is@0 is@1
js@0 js@1
ks@0 ks@1
ls@0 ls@1
ms@0 ms@1
ns@0 ns@1
os@0 os@1
ps@0 ps@1
qs@0 qs@1
rs@0 rs@1
ss@0 ss@1
1. Zufallsvektoren simulieren
getestete Fehler streichen
2. Gezielt Testmuster für übrige Fehler erzeugen
Wenn ein Testmuster gefunden (a s@ß) :
1. Fehler streichen
2. Muster für übrige Fehler simulieren
Test hochintegrierter Schaltungen November 07
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 4 (Fehlermodelle)
as@0 as@1
bs@0 bs@1
cs@0 cs@1
ds@0 ds@1
es@0 es@1
fs@0 fs@1
gs@0 gs@1
hs@0 hs@1
is@0 is@1
js@0 js@1
ks@0 ks@1
ls@0 ls@1
ms@0 ms@1
ns@0 ns@1
os@0 os@1
ps@0 ps@1
qs@0 qs@1
rs@0 rs@1
ss@0 ss@1
1. Zufallsvektoren simulieren
getestete Fehler streichen
2. Gezielt Testmuster für übrige Fehler erzeugen
Wenn ein Testmuster gefunden (a s@ß) :
1. Fehler streichen
2. Muster für übrige Fehler simulieren
sonst Fehler als untestbar markieren (ns@0)
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 4 (Fehlermodelle)
Das Testmuster muss zwischen n und allen anderen Fehlern unterscheiden
0|1
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 4 (Fehlermodelle)
0|1
0|11
Das Testmuster muss zwischen n und allen anderen Fehlern unterscheiden
Fehler in e, c, g, f, h, s und e wirken sich auf out8 aus und Fehler in q,o, m und k auf Z
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 4 (Fehlermodelle)
0|1
1 0|1
Das Testmuster muss zwischen n und allen anderen Fehlern unterscheiden
Fehler in e, c, g, f, h, s und e wirken sich auf out8 aus und Fehler in q,o, m und k auf Z
ns@1 aktivieren und nach out7 propagieren mit n=0|1 und p=1
→ Fehler in p wirkt sich nicht auf out7 aus (n=0|1)
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 4 (Fehlermodelle)
Das Testmuster muss zwischen n und allen anderen Fehlern unterscheiden
Fehler in e, c, g, f, h, s und e wirken sich auf out8 aus und Fehler in q,o, m und k auf Z
ns@1 aktivieren und nach out7 propagieren mit n=0|1 und p=1
→ Fehler in p wirkt sich nicht auf out7 aus (n=0|1)
p=1 impliziert h=b=1
→ b=1: d und i wirken sich nicht auf out7 aus und Fehler in j wirkt sich auf Z aus
→ h=1: l wird maskiert, Fehler in b wirkt sich auf Z aus und Fehler in b wirkt auf out8
0|1
1 0|1
1
1
Daraus folgt:
(R,i7,i8,Z,out7,out8)
=(0,1,0, 1,0|1,1)
Kein anderer Fehler
erzeugt bei (0,1,0)
(1,0|1,1).
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 4 (Fehlermodelle)
Transition entlang eines Pfades durch A erzeugen der im Fehlerfall das Delay überschreitet
→ zwei Testmuster sind notwendig (t1- t2)
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 4 (Fehlermodelle)
Transition entlang eines Pfades durch A erzeugen der im Fehlerfall das Delay überschreitet
→ zwei Testmuster sind notwendig (t1- t2)
→ Nach 40 ns schaltet h auf 1, o und p verspätet nach 85 ns und r und out7 nach 115 ns.
→ Diskrepanz nach 100 ns in out7
115ns
1-1
0-1
0-1
1-0
T=1-0
1-0
1-1
0-10-1
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 4 (Fehlermodelle)
&b=‘1|01
0
1
1|0
0
0
einzigst mögliche Diskepanz (aufgrund der AND-Brücke)
• b=1
• b‘=1|0 (1 im fehlerfreiem Fall, 0 im fehlerhaftem)
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 5 (CO)
Heuristiken für Kontrollierbarkeit und Observierbarkeit• Testmustergenerator sensibilisiert Pfade um Fehler zu testen
• entlang der Pfade werden Entscheidungen über Signalzuweisungen getroffen
• Bsp.: – ist es leichter h=0 oder h=1 zusetzen – kann n oder o leichter observiert werden– Propagation über n schlägt fehl → Backtracking → Fehler entlang o propagieren→ mit SCOAP können die Pfade sortiert werden, sodass weniger Backtracking notwendig ist
b s@0
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 5 (CO)
mit Inverterpunkt
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 5 (CO)
SCOAP
1 1 ?1 1 ?
1 1 ?
1 1 ?
1 1 ?1 1 ?
1 1 ?
2 2 ?
2 2 ?
3 5 ?
3 5 ?
3 5 ?
3 5 ?
3 5 ?2 7 ?
2 7 ?
2 7 ?
2 6 ?
3 14 ?
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 5 (CO)
SCOAP
1 1 61 1 13
1 1 4
1 1 6
1 1 41 1 4
1 1 13
2 2 3
2 2 3
3 5 0
3 5 0
3 5 2
3 5 2
3 5 112 7 0
2 7 7
2 7 0
2 6 8
3 14 0
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Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
1 1 61 1 13
1 1 4
1 1 6
1 1 41 1 4
1 1 13
2 2 3
2 2 3
3 5 0
3 5 0
3 5 2
3 5 2
3 5 112 7 0
2 7 7
2 7 0
2 6 8
3 14 0
b s@0
Aufgabe 5 (CO)
nach SCOP können Signaländerungen in m besser observiert werden als in n, die 1-Kontrollierbarkeit ist für beide Signalleitungen gleich gut
aber die 1-Kontrollierbarkeit von h ist schlechter als die 0-Kontrollierbarkeit